Pengamatan dilakukan di laboratorium Elektron Mikroskop PPNN ITB. Pengamatan yang dilakukan menggunakan alat X-Ray Diffractometer (XRD) Bruker D8 Advance Alat ini digunakan untuk menganalisis jenis , komposisi, dan fasa senyawa pada sampel. Hasil pengujian berupa raw data berekstensi *.raw dan *.brml Sampel untuk karakterisasi XRD harus memenuhi kriteria sbb: 1.Sampel dapat berupa serbuk/padatan/lapisan tipis dengan volume minimal 2 ml. Berat sampel tidak ditentukan karena tergantung massa jenis material. 2. Untuk serbuk harus homogen dan halus yaitu dengan ukuran dibawah 40 mikron (lebih baik pada rentang 5-20 mikron) 3. Untuk padatan permukaannya harus benar-benar rata dengan dimensi 15±1 mm x 15±1 mm x 1,1 mm. 4. Untuk lapisan tipis harus cukup tebal agar bukan substrat yang terdeteksi. Ketebalan minimum yang disarankan adalah sekitar 50 mikron.
