Hands-On XRD Bruker D8 Advance

Pengamatan dilakukan di laboratorium Elektron Mikroskop PPNN ITB. Pengamatan yang dilakukan menggunakan alat X-Ray Diffractometer (XRD) Bruker D8 Advance Alat ini digunakan untuk menganalisis jenis , komposisi, dan fasa senyawa pada sampel. Hasil pengujian berupa raw data berekstensi *.raw dan *.brml Sampel untuk karakterisasi XRD harus memenuhi kriteria sbb: 1.Sampel dapat berupa serbuk/padatan/lapisan tipis dengan…

Read More

Hands-On SEM SU3500

Pengamatan dilakukan di laboratorium Elektron Mikroskop PPNN ITB. Pengamatan yang dilakukan menggunakan alat SEM HITACHI SU3500 Scanning Electron Microscope (SEM) adalah alat untuk mencitrakan detail permukaan sampel dalam resolusi tinggi. Perbesaran maksimum SEM SU3500 adalah 300.000 kali, namun nilai perbesaran ini akan dibatasi oleh jenis dan kualitas sampel yang diamati. Untuk pengamatan SEM, sampel tidak…

Read More

Preparasi dan pengamatan sampel menggunakan TEM HT7700

Pengamatan dilakukan di laboratorium Elektron Mikroskop PPNN ITB. Pengamatan yang dilakukan menggunakan alat TEM HT7700 Transmission Electron Microscope (TEM) adalah alat untuk mencitrakan detail struktur internal sampel dalam resolusi tinggi. TEM HT7700 memiliki tegangan akselerasi maksimum sebesar 120kV. Perbesaran maksimum TEM HT7700 adalah 600.000 kali, namun nilai perbesaran ini akan dibatasi oleh jenis dan kualitas…

Read More

Atomic Force Microscopes (AFM)

Now Available Atomic Force Microscopes (AFM). Alat ini terdapat di Laboratorium Mikroskop Elektron. Penggunaan Alat dapat dilakukan oleh semua users. Untuk booking online alat tersebut dapat dilakukan dengan mengunjungi website sipa.nrcn.itb.ac.id. Keterangan lebih lanjut mengenai alat tersebut dapat dilihat di sini.

Read More