Pengamatan dilakukan di laboratorium Elektron Mikroskop PPNN ITB. Pengamatan yang dilakukan menggunakan alat X-Ray Diffractometer (XRD) Bruker D8 Advance Alat ini digunakan untuk menganalisis jenis , komposisi, dan fasa senyawa pada sampel. Hasil pengujian berupa raw data berekstensi *.raw dan *.brml Sampel untuk karakterisasi XRD harus memenuhi kriteria sbb: 1.Sampel dapat berupa serbuk/padatan/lapisan tipis dengan volume minimal 2 ml. Berat sampel tidak ditentukan karena tergantung massa jenis material. 2. Untuk serbuk harus homogen dan halus yaitu dengan ukuran dibawah 40 mikron (lebih baik pada rentang 5-20 mikron) 3. Untuk padatan permukaannya harus benar-benar rata dengan dimensi 15±1 mm x 15±1 mm x 1,1 mm. 4. Untuk lapisan tipis harus cukup tebal agar bukan substrat yang terdeteksi. Ketebalan minimum yang disarankan adalah sekitar 50 mikron.
Cari
Berita
Berikut adalah hasil kuis dari kegiatan Safety Induction yang telah dilaksanakan oleh Pusat Penelitian Nanosains dan Nanoteknologi pada tanggal 02 Maret 2022. Hasil tersebut dapat dilihat dan diunduh sebagai berikut : Hasil Kuis Safety Induction Sesi 1 Hasil Kuis Safety Induction Sesi 2 Hasil Kuis Safety Induction Sesi 3 ✅ Peserta yang belum mendapatkan nilai…
lihat postOsaka University, Institut Teknologi Bandung, and Universiti Kebangsaan Malaysia are working together to organise “Online workshop on Applied and Engineering Sciences”. One of the workshops’ programmes is a webinar series in which speakers from each university share their expertise and experience. To register, please scan the QR code (https://bit.ly/OnWorkAES) as shown on the poster. Details…
lihat post