Pengamatan dilakukan di laboratorium Elektron Mikroskop PPNN ITB. Pengamatan yang dilakukan menggunakan alat SEM HITACHI SU3500 Scanning Electron Microscope (SEM) adalah alat untuk mencitrakan detail permukaan sampel dalam resolusi tinggi. Perbesaran maksimum SEM SU3500 adalah 300.000 kali, namun nilai perbesaran ini akan dibatasi oleh jenis dan kualitas sampel yang diamati. Untuk pengamatan SEM, sampel tidak dapat mengandung cairan atau berada dalam fasa cair. Pada SEM dapat dilakukan analisis Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS).
